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Banque d'images - Plaquette de silicium semi-conducteur subissant un test de sonde. Mise au point sélective

Plaquette de silicium semi-conducteur subissant un test de sonde. Mise au point sélective
image ID : 91517081
Type de media : Banque d'images
Droit d'auteur : genkur
4320 x 2880 px | 14.4 " x 9.6 " | 300dpi | JPG
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